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便攜式厚度測試儀-日本電測densoku便攜式膜厚計QNIx系列

發布時間:2020-08-14 點擊量:866

日本電測densoku便攜式膜厚計QNIx系列

一種便攜式膜厚計,可以容易地提高麻煩的膜厚測量的生產效率。

QNIx系列產品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測量膜厚,而無需攜帶厚膜厚計。
無線測量無需電纜。它有助于將測量數據傳輸到個人計算機,也有助于防止測量過程中掉落事故。

QNIx系列功能

無需校準薄膜即可進行精que的薄膜厚度測量

提供出廠時輸入的16點校準數據。這樣就無需進行麻煩的薄膜打樣工作,并且可以進行精que的薄膜厚度測量。

膜厚測量數據傳輸的新技術

在傳統的測量儀器中,測量儀器通過電纜連接到個人計算機以傳輸測量數據。QNIx系列使用“無線加mi狗”,只需將其插入USB端口即可進行傳輸。您可以更快,更輕松地瀏覽測量數據。

超輕便的無線測量儀

探頭測得的數據被無線發送到主機。也減少了被電纜夾住或像常規產品一樣妨礙并導致墜落事故的風險。此外,該探頭重30克,非常輕巧,因此您無需攜帶笨重的儀器。

一種不易折斷且不會在測量對象上留下痕跡的探針。

QNIx系列探頭被增強塑料包圍,耐用性提高了30%。即使在極少數的故障情況下,拆卸和維修也很容易,因此可以縮短維修時間。此外,它配備了紅寶石芯片,因此您可以安全地測量樣品而不會損壞它。

QNIx系列比較規格表

 QNIx 8500QNIx
4500/4200
QNIx 7500QNIx Carcheck系統QNIx方便
可測量的電影[F]黑色金屬上的非磁性涂層
[N]黑色金屬上的非導電涂層
[FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導電涂層
[FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導電涂層[FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導電膜厚度
材料識別黑色金屬和有色金屬的
自動識別和交換
黑色金屬和有色金屬的
自動識別和交換
用戶的轉換黑色金屬和有色金屬的
自動識別和交換
鐵/有色金屬自動識別模式轉換
測量原理[F]磁通量(霍爾效應)
[N]渦流
測量范圍0至2,000μm
(可選:5,000μm)
0至3,000μm0至2,000μm
(可選:5,000μm)
0?5,000微米0?500微米
gao
分辨率
0.1μm,1μm
[M] 0.01μm
1微米0.1微米0.1微米,1微米5微米
配置格式0點校正
用戶校準:1
[M] 100
0點校正0點校正沒有校準功能沒有校準功能
準確性±(1μm+ 2%)
±3.5%
(2mm以上)
[T] ±
(0.3μm+ 2%)
±(2μm+ 3%)±(1μm+ 3%)±(1μm+ 2%)
±3.5%
(2mm以上)
±(10微米+ 5%)
測量速度1,500ms
(約40次/分鐘)
[T] 920ms
(約65次/分鐘)
[R] 1,600ms
(約37次/分鐘)
600ms
(約70次/分鐘)
1,300ms
(約46次/分鐘)
1,500ms
(約40次/分鐘)
600ms
(約100次/分鐘)

便攜式薄膜測厚儀的型號代碼指南

[F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測量

[N]有色金屬材料的非導電膜厚度測量

[FN]用一根探針測量黑色金屬和有色金屬的厚度

[T]微型探針

[M]測量數據存儲功能,數據傳輸到PC

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