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圖像分析型粒度分布測量軟件 Mac-View介紹

發布時間:2022-05-11 點擊量:927

圖像分析型粒度分布測量軟件 Mac-View介紹

 

Mac-View Version.5 概述

結合各種識別工具,實現對所有粒子的測量和分析

通過讀取 SEM 或 TEM 拍攝的圖像并識別目標顆粒,自動計算粒度分布并量化顆粒形狀。
通過使用手寫板的手動分析工具,可以輕松識別形狀復雜的顆粒和聚集顆粒。

Mac-View Version.5 的新功能和改進

-粒子采集模式新增“針狀”

?提高自動識別處理速度
?提高自動識別精度
?符合JIS8827-1(2018)

 

Mac-View Version.5 的特點

■ 聚集粒子的一次粒徑分析

可以評價凝集粒子的一次粒徑,這在過去是困難的。

■ 納米粒子的評價

只要有尺度信息,無論粒度如何,都可以進行分析。

■ 多方面的分析/評估

可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀(圓形度、縱橫比等)。另外,可以獲得的數據豐富,可以評價凝聚粒子的一次粒子。

■ 操作簡單

無需專業知識,操作簡單,工人的熟練程度無關緊要。

■ 無需昂貴的資本投資

只要您準備好圖像(jpeg、位圖),您就可以在 PC 上安裝軟件后立即使用它。

應用示例

納米粒子、聚集粒子、粒狀體、燒結體截面、乳化粒徑等

支持軟件

■ 粉體分析綜合軟件Mac-PIAS

Mac-PIAS是一款全新維度的綜合粉體分析軟件,可以對任何方法測得的“粒度分布數據”進行集中管理和分析。

■ 篩分試驗數據分析軟件Macmesh

Macmesh 是一款通過大量數據消除篩選測試中的人為錯誤并高效工作的工具。

 

Mac-View Version.5 規格

測量功能 面積/周長/大徑/小徑/最大長度/最小長度/海伍德直徑/圓周圓當量直徑/圓度系數/縱橫比/形狀系數1-3/費雷特直徑/馬丁直徑/克魯姆拜因直徑/雙軸平均直徑,雙軸幾何平均直徑、雙軸協調平均直徑、長度等
分析功能 粒度% ? ON / PASS 分析 ? 體積/數量/長度轉換 ? 峰值數據分析 ? 匯總數據分析 ? 粒度分類轉換 ? 篩分垂直轉換 ? 形狀系數分析 ? 數據合成 ? 數據分組
其他功能 各種圖形顯示功能、各種打印輸出功能、文本輸出功能、圖像輸出功能等。
操作環境 ● PC/AT 兼容機運行Microsoft Windows 7/8/10(同時兼容32/64bit)
*如果您使用的是Windows 7/8,請通過Windows Update 安裝新的更新程序。
● 用于許可證驗證的USB 硬件配備可用于的USB 端口(必需)
● 連接掃描儀(兼容TWAIN)和可選液晶數位板時,需要USB 端口等接口
● 顯示器:顯示高達全高清分辨率(1,920 x 1,080)
● CPU:根據操作系統所需的試用版(1 GHz 或更高的 CPU)
● 內存:建議 2GB 或更多
● 至少需要 200MB 的可用空間內部硬件
● 安裝 有時需要 CD-ROM 驅動器
對應標準 基于 JIS Z 8827-1


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