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什么是波長掃描光源?

發布時間:2023-03-27 點擊量:623

 什么是波長掃描光源?

波長掃描的光源發出連續掃描波長的激光。適合形狀 利用光學傳感OFDR(光頻域反射計)進行測量和位移測量 使用激光相干性的方法。OFDR方法也被廣泛稱為FMCW(調頻 連續波)方法。

波長掃描光源用作在精度等廣泛領域進行傳感的光源 測量、振動測量、表面檢測、OCT 等工業應用、醫療應用等 作為眼科OCT和血管內OCT,基礎設施/工廠測量應用,例如 大型結構的位移/波動和長度測量。

安立的波長掃描光源通過連續執行來提供高相干波長的掃描光 以及在具有窄線寬的單個縱向模式下進行無跳模波長掃描。這些掃過的光 光源可用于更遠的距離和更高的精度進行測量。

安立波長掃描光源通過光學排列改進了標準的利特曼排列,因此 MEMS掃描鏡可用于實現高速波長掃描。在該光學系統中,該區域來自 MEMS掃描鏡反射面的有效空腔端面由外腔, 在由腔長決定的多個垂直模式中,只有一種模式由波長獲得 選擇衍射光柵的選擇性進行振蕩。

安立掃光概述
安立波長掃掠光源概述


下圖示意性地描繪了衍射光柵的波長選擇性,由 MEMS掃描鏡,以及所選振蕩模式的變化。

安立掃頻光源的振蕩模式變化
安立波長掃描光源的振蕩模式變化

特征

  • 中心波長:1,550 nm(也可以支持1060 nm)

  • 掃描頻率 : 150 Hz*1或 1,250 Hz*2

  • 波長掃描寬度 : 15 至 70 nm*1或 30 至 110 nm*2

  • 平均光輸出功率:10 mW以上

  • 振蕩模式:單縱向和無跳模

  • 相干長度(參考值):100m以上*1(Δλ=25 nm), 10 m 或更長*2(Dl=30 nm)

*1 AQB5500P/AQB5500D*2 AQA5500P/AQA5500D

應用

精密厚度測量

  • 光學元件厚度測量:測量玻璃和透鏡等透明物體的厚度

  • 薄膜和鋼板的厚度測量和表面粗糙度測量

  • 半導體晶圓的厚度測量

振動測量

  • 旋轉體振動寬度測量:測量鉆頭和圓盤的偏心率和表面跳動, 等。

  • 振動體振動寬度測量和頻率測量:揚聲器等

表面檢測

  • 檢測工件是否有毛刺和劃痕

  • 焊接表面的精細凸塊測量

OCT(光學相干斷層掃描)

OCT利用光學干涉對物體和人體內部進行斷層掃描,也可以 與光束掃描一起使用,以詳細測量三維結構。它利用近紅外光來執行 非破壞性和非接觸式成像,用于檢測薄膜產品的缺陷和檢測 用于眼科治療。

工業華僑城

  • 樹脂/塑料產品的厚度測量和粘合區域的檢查

  • 半導體晶圓的厚度測量

華僑城醫學

  • 眼軸長度測量儀(生物計)

  • 血管內OCT:比IVUS(血管內超聲)更高分辨率的斷層掃描


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