什么是波長掃描光源？
波長掃描的光源發出連續掃描波長的激光。適合形狀 利用光學傳感OFDR（光頻域反射計）進行測量和位移測量 使用激光相干性的方法。OFDR方法也被廣泛稱為FMCW（調頻 連續波）方法。
波長掃描光源用作在精度等廣泛領域進行傳感的光源 測量、振動測量、表面檢測、OCT 等工業應用、醫療應用等 作為眼科OCT和血管內OCT，基礎設施/工廠測量應用，例如 大型結構的位移/波動和長度測量。
安立的波長掃描光源通過連續執行來提供高相干波長的掃描光 以及在具有窄線寬的單個縱向模式下進行無跳模波長掃描。這些掃過的光 光源可用于更遠的距離和更高的精度進行測量。
安立波長掃描光源通過光學排列改進了標準的利特曼排列，因此 MEMS掃描鏡可用于實現高速波長掃描。在該光學系統中，該區域來自 MEMS掃描鏡反射面的有效空腔端面由外腔， 在由腔長決定的多個垂直模式中，只有一種模式由波長獲得 選擇衍射光柵的選擇性進行振蕩。
下圖示意性地描繪了衍射光柵的波長選擇性，由 MEMS掃描鏡，以及所選振蕩模式的變化。
中心波長：1，550 nm（也可以支持1060 nm）
掃描頻率 ： 150 Hz*1或 1，250 Hz*2
波長掃描寬度 ： 15 至 70 nm*1或 30 至 110 nm*2
平均光輸出功率：10 mW以上
振蕩模式：單縱向和無跳模
相干長度（參考值）：100m以上*1（Δλ=25 nm）， 10 m 或更長*2（Dl=30 nm）
*1 AQB5500P/AQB5500D*2 AQA5500P/AQA5500D
光學元件厚度測量：測量玻璃和透鏡等透明物體的厚度
薄膜和鋼板的厚度測量和表面粗糙度測量
半導體晶圓的厚度測量
旋轉體振動寬度測量：測量鉆頭和圓盤的偏心率和表面跳動， 等。
振動體振動寬度測量和頻率測量：揚聲器等
檢測工件是否有毛刺和劃痕
焊接表面的精細凸塊測量
OCT利用光學干涉對物體和人體內部進行斷層掃描，也可以 與光束掃描一起使用，以詳細測量三維結構。它利用近紅外光來執行 非破壞性和非接觸式成像，用于檢測薄膜產品的缺陷和檢測 用于眼科治療。
樹脂/塑料產品的厚度測量和粘合區域的檢查
半導體晶圓的厚度測量
眼軸長度測量儀（生物計）
血管內OCT：比IVUS（血管內超聲）更高分辨率的斷層掃描
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