反射率測量裝置MSP-100介紹
以未有的低成本實現微小區域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測量。
通過使用特殊的半反射鏡,可以減少背面反射光,無需背面處理即可在短時間內進行精確測量。
(可測量 0.2 mm 薄板的反射率:使用 ×20 物鏡時)
還可以測量鏡片曲面和涂層不均勻度。(在樣品表面連接微小點(φ50μm))
即使是低反射率的樣品也可以在短時間內進行測量,并且具有高重復性。(光學設計捕獲最大量的光,并
通過512元件線性PDA、內置16位A/D轉換器和USB 2.0接口的高速計算實現快速測量)
可以進行色度測量和L*a*b*測量??梢允褂霉庾V比色法根據光譜反射率來測量物體。
數據可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。
單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測量。
具有在同一屏幕上顯示多個測量結果的功能。這使得比較測量結果變得更加容易。
型號 | MSP-100 |
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測量波長 | 380~1050nm |
測量重復性 | ±0.2%(380-450nm) ±0.02%(451-950nm) ±0.2%(951-1050nm) |
樣品面 NA | NA 0.12(使用 10 倍物鏡時) |
樣品測量范圍 | φ50μm(使用10倍物鏡時) |
樣品曲率半徑 | -1R~-無窮大, +1R~無窮大 |
顯示分辨率 | 1納米 |
測量時間 | 幾秒到十幾秒(取決于采樣時間) |
外形尺寸 | (寬)230×(高)560×(深)460mm(僅機身) |
工作溫度限制 | 18~28℃ |
工作濕度 | 60%以下(無凝露) |
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