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日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

產品型號:

所屬分類:超聲波測厚儀

產品時間:2021-04-01

簡要描述:日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列
通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度,從而導致結果。高精度測量是困難的。

詳細說明:

日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

這是使用β射線(beta射線)的測厚儀(膜厚計)。以非接觸方式(β射線)測量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過直接與參考物質比較來計算厚度和密度(基本重量),而不是直接測量厚度。
 通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度,從而導致結果。高精度測量是困難的。
 另一方面,在諸如β射線測厚儀之類的通過透射衰減來估計厚度的方法中,測量了空氣層-樣本-空氣層與滲透之間的衰減,但是樣本的衰減遠大于空氣的影響,運輸的影響僅表現為空氣層厚度的變化,并且影響很小。因此,可以高精度地進行測量。

β射線測厚儀的一般特點

  1. 基本重量可以在不依賴于元素的情況下進行測量。

我們的β射線測厚儀與常規β射線測厚儀相比的特點

  1. 無需設置資格或控制區域(帶顯示的身份驗證設備)
  2. 檢測單元和β射線源單元緊湊,輕便,甚至可以安裝在狹窄的地方。

采用

  • 塑料膜(多層擠出膜等)
  • 電池電極(鋰離子電池(負極/正極),鎳氫電池等)
  • 玻璃纖維布
  • 陶瓷片
  • 銅箔,鋁箔,不銹鋼箔

日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

貝塔射線測厚儀SB-1100


β射線測厚儀SB-1100的規格
 
物品規格
姓名貝塔射線測厚儀SB-1100
測量方法Beta射線透射法
驗證碼設置114(帶顯示的認證設備)
檢測方式閃爍檢測器方法
測量間距標準2mm(可提供更細的間距)
掃描寬度標準150-3000mm(也可提供其他寬度)
掃描速度15-200毫米/秒(標準)
框架結構O型等各種鏡框
測量范圍0-200克/平方米2
光斑尺寸約φ8.0mm(標準)(上班)
Beta射線源80 x 110毫米x 235毫米(標準)
檢測單元80 x 110毫米x 235毫米(標準)
電源100V單相1kVA


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